掃描電子顯微鏡的多電壓成像如何實現
多電壓成像(multi-voltage imaging)是掃描電子顯微鏡(SEM)?中一種技術,通過在不同的加速電壓下對同一位置進行成像,來獲得更多的樣品信息。
MORE INFO → 常見問題 2024-08-12
多電壓成像(multi-voltage imaging)是掃描電子顯微鏡(SEM)?中一種技術,通過在不同的加速電壓下對同一位置進行成像,來獲得更多的樣品信息。
MORE INFO → 常見問題 2024-08-12
處理和觀察非導電樣品是臺式掃描電鏡(SEM)?中的一個常見問題,因為傳統的SEM通常需要樣品具有一定的導電性才能獲得良好的圖像質量。
MORE INFO → 常見問題 2024-08-06
在臺式掃描電鏡?中觀察高溫樣品是一項挑戰性的任務,需要特定的樣品支持和操作技術。
MORE INFO → 常見問題 2024-08-06
ZEM系列臺式掃描電鏡的使用為研究提供了重要的視覺證據,幫助研究人員理解PLT如何影響材料的表面特性,這些特性的變化直接關聯到材料的光學和電物理性能。
MORE INFO → 常見問題 2024-07-11
提高掃描電鏡清晰度的方法包括:
MORE INFO → 常見問題 2024-07-11
掃描電鏡的工作距離(Working Distance, WD)是指從樣品表面到物鏡下端的距離。
MORE INFO → 常見問題 2024-07-11
掃描電鏡可以檢測到以下幾種主要信號:
MORE INFO → 常見問題 2024-07-11
在掃描電子顯微鏡(SEM)中,樣品桿的多軸定位是指能夠在多個方向上移動和旋轉樣品,以實現更復雜的樣品定位和觀察需求。
MORE INFO → 常見問題 2023-08-18