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澤攸科技成立于2016年，擁有安徽銅陵、北京、上海和東莞四家分公司，是一家具有完全自主知識產權的精密儀器高科技公司。公司專注于掃描電鏡、原位測量系統、臺階儀、探針臺、電子束光刻機等精密設備的研究，填補了國家在科學精密儀器領域的諸多空白。

人才是企業的核心競爭力和發展的驅動力。澤攸科技于20世紀90年代便開啟電子顯微鏡及相關原位附件的研發，已逐步打造成為科學精密儀器領域人才聚集地。現有員工100多人，其中院士、專家團隊20余人，擁有精通機械、光學、超高真空、電子技術、微納加工技術、軟件開發技術的專業團隊。為解決行業內“卡脖子”難題，企業全力培養人才，重視產學研用合作，并與十幾家高校及科研院所建立了長期合作機制，以應用為導向，共同開展行業內關鍵共性技術開發。

雄厚的技術與人才實力，贏得了客戶的深厚信賴。在許智博士的帶領下，從項目建設、平臺搭建、產品創新抓起，公司實現快速發展，產量、銷售、利潤逐年大幅增長。承擔和參與了國家重點研發計劃、國家重大科研裝備研制項目等多個重量級科研項目，如“低溫強磁場綜合物性測量儀”項目和“高通量生物樣品真空傳遞裝置”項目的立項，并獲得包括北京市科學技術一等獎在內的多次省部級獎項。構建了“產學研用”協同技術創新機制，多次率先實現國內材料表征測量設備的“國產替代”，相關產品具有較好的國際聲譽、產品檢測數據被國際盛名期刊采納。桌面式掃描電子顯微鏡、大行程納米位移臺、臺階儀等產品實現了國產化零的突破，等離子體化學氣相沉積系統、掃描隧道顯微鏡系統等產品達到國內外優異水平。核心產品經過眾多知名企業驗證，已進入大規模量產階段，現已得到數百個高質量用戶的盛贊，遍布國內27個省級行政區，不僅覆蓋中國多個科學實驗室，還遠銷海外等發達國家，在業內享有高度好評。

經過二十多年的技術積累，以及一支專業的研發與生產團隊，澤攸科技以自主知識產權的技術為核心，在半導體芯片加工和材料表征測量領域屬于國內佼佼者。關鍵半導體加工與材料表征測量儀器設備實現國產化，關鍵之處就在于實現自主可控。未來，澤攸科技還將繼續堅持“用精密量測賦能科技創新”的理念，以“科技指領”打破進口納米科學儀器設備的壟斷，聚焦新材料、新能源、半導體、生物醫藥、基礎科研等前沿領域，實現自主研發，打造集微納米加工、微納表征、微納操縱于一體的納米技術全產業鏈解決方案，加速國產科學科研儀器產業落地，助力國產科學儀器健康蓬勃發展。

企業文化

使命：用精密量測賦能科技創新

愿景：制造精密儀器，探索微觀世界

核心價值觀：用戶至上、合作共贏、精益求精、求實創新、開放互信、拼搏共進

公司發展歷程

2022年

? 以牽頭單位承擔國家研發計劃

2021年

? 成立東莞澤攸、上海澤鏡

? 壓電位移臺、低溫超高真空掃描隧道顯微鏡、等離子體增強化學氣相沉積系統實現量產

? 正式推出臺階儀

2020年

? 電子顯微鏡原位產品累計銷售突破100套

2019年

? 推出首套國產自主研發臺式描電子顯微鏡：ZEM15鎢燈絲掃描電子顯微鏡

? 入駐松山湖材料實驗室創新樣板工廠

2018年

? 獲數千萬基金融資

2017年

? PicoFemto系列原位電學、力電、光電產品在澳大利亞昆士蘭科技大學順利安裝驗收，實現原位產品出口項目

2016年

? 在安徽進行產業化落地，籌建掃描電子顯微鏡研發及生產基地

2014年

? 推出首套國產商業化透射電鏡原位測量系統：PicoFemto系列TEM-STM原位電學測量系統

2005年

? 初代透射電鏡原位測量系統在北京中科院物理研究所完成上機測試

產品研發歷程：

2014年 　　　
（1）推出PicoFemto系列產品——透射電鏡單傾原位TEM-STM電學測量系統，在保證電鏡原有分辨率的前提下實現亞納米級別的機械操縱和高精度的物性測量。 　　　　
（2）推出透射電鏡雙傾原位TEM-STM電學測量系統。　　 　　　　
2015年 　　　　
（1）推出透射電鏡單傾原位TEM-STM-AFM力電一體測量系統，在保證電鏡原有分辨率的前提下，實現定量力學-電學一體測量。 　　　　
2016年 　　　　
（1）推出透射電鏡原位TEM-STM光電一體測量系統，在保證電鏡原有分辨率前提下，實現原位光電一體聯用測試。 　　　　
（2）推出基于MEMS芯片技術的透射電鏡原位液體/電化學測量系統，實現透射電鏡中的原位液體/電化學研究。 　　　　
（3）推出透射電鏡原位TEM-STM低溫電學測量系統，將低溫模塊集成到TEM-STM電學測量系統上。 　　　　
2017年 　　　　
（1）推出基于MEMS芯片的單傾加熱/電學測量系統，實現透射電鏡中的高分辨原位加熱及電學測量。 　　　　
（2）推出原位SEM液體/電化學測量系統，實現在SEM中的原位液體/電化學研究。　 　　　　
2018年 　　　　
（1）推出基于MEMS芯片的原位TEM氣氛環境加熱測量系統，實現在TEM中進行原位氣氛環境下的加熱實驗。 　　　　
（2）推出基于MEMS芯片的雙傾加熱/電學測量系統，實現MEMS芯片的雙傾加熱和電學測量。 　　　　
（3）推出單傾/雙傾多頭樣品桿，可一次內置3個樣品進入電鏡，每個樣品都可以保證電鏡原有分辨率，大大提高了電鏡測試效率。 　　　　
（4）推出原位SEM氣氛環境加熱測量系統，實現了SEM中的原位氣氛環境加熱研究。 　　　　
（5）推出單傾/雙傾360度旋轉測量樣品桿，使透射電鏡樣品可以在雙傾傾轉的同時進行360度旋轉。 　　　　
（6）推出T-station帶等離子體清洗的真空預抽系統，用于樣品桿貯存和清洗，也可用于改善mems芯片的親水性。 　　 　
（7）推出MEMS-STM-TEM多場測量樣品桿，實現在透射電鏡內同時對樣品施加四種外場。 　　　　
2019年 　　　　
（1）推出原位SEM熱拉伸臺，在SEM中實現定量力學拉伸和高溫觀測。 　　　　
（2）推出原位TEM高溫力學測量系統，實現定量的原位力-熱耦合。 　　　　
（3）推出完全自主研發的臺式鎢燈絲掃描電子顯微鏡ZEM15，該產品通過市場定位，結合創新的電子光學設計、電路模塊設計和軟件功能設計，打造易用且高性價比的臺式掃描電子顯微鏡。 　　　　
（4）推出雙傾/單傾真空傳輸樣品桿，解決空氣敏感樣品無法完好內置入電鏡的難題。 　　　　
（5）推出原位TEM拉伸樣品桿。 　　　　
除上述產品外，公司還協助客戶定制開發了多種原位測量系統，滿足不同實驗場景下的原位觀測。 　　　
未來，我公司還將進一步增加研發力度，推出更多高性能、實用的電子顯微鏡及附件產品，為納米科學研究提供不凡的設備。