如何將樣品桿插入透射電鏡并正確對齊？
將樣品桿?插入透射電鏡（Transmission Electron Microscope, TEM）并正確對齊是一個需要仔細操作和一定技術經驗的過程。
MORE INFO → 行業動態 2024-06-28
將樣品桿?插入透射電鏡（Transmission Electron Microscope, TEM）并正確對齊是一個需要仔細操作和一定技術經驗的過程。
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在使用過程中，如果樣品桿出現松動，需要立即處理以防止樣品損壞或數據不準確。
MORE INFO → 行業動態 2024-06-25
在樣品桿上安裝多種類型的樣品時，需要考慮樣品的形狀、尺寸、材料及所使用的分析設備。
MORE INFO → 行業動態 2024-06-25
6月26日至28日，華南半導體領域具有影響力和代表性的行業盛會SEMI-e 2024第六屆深圳半導體展將在深圳國際會展中心（寶安新館）拉開序幕。
MORE INFO → 公司新聞 2024-06-20
臺掃電鏡（SEM）對樣品的顆粒大小并沒有嚴格的要求，但顆粒大小會影響成像效果和分析結果。
MORE INFO → 行業動態 2024-06-20
在使用臺掃電鏡（SEM）分析樣品時，工作距離（working distance, WD）對觀察結果有顯著影響。
MORE INFO → 行業動態 2024-06-19
掃描電子顯微鏡（SEM）在低真空和高真空模式下工作時存在一些顯著的區別。
MORE INFO → 行業動態 2024-06-18
提高掃描電子顯微鏡（SEM）的放大倍數是為了觀察樣品的更細微的結構和細節。
MORE INFO → 行業動態 2024-06-18