掃描電鏡中的圖像偽影如何通過優化成像參數進行消除
在掃描電子顯微鏡（SEM）?中，圖像偽影（artifacts）可能會影響圖像的質量和分析的準確性。
MORE INFO → 行業動態 2024-09-05
在掃描電子顯微鏡（SEM）?中，圖像偽影（artifacts）可能會影響圖像的質量和分析的準確性。
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在掃描電子顯微鏡 (SEM) ?中，二次電子探測器 (Secondary Electron Detector, SE Detector) 是生成圖像的主要設備之一，它通過探測從樣品表面發射出的二次電子 (Secondary Electrons, SE) 來構建圖像。
MORE INFO → 行業動態 2024-09-05
2024年9月11-13日，第二十五屆中國國際光電博覽會（CIOE中國光博會）將在深圳國際會展中心舉辦，澤攸科技將攜一眾先進科學儀器及新微納技術領域行業解決方案亮相6D91、6D92展位，我們期待著與各位新老朋友們見面，也希望通過此次機會與業內同仁、專家們共同交流探討、共商合作、互利發展。
MORE INFO → 公司新聞 2024-09-04
在掃描電鏡（SEM）?中，光束調制是指通過調整電子束的各種參數（如束流強度、掃描速度、加速電壓等）來影響成像的過程。
MORE INFO → 行業動態 2024-09-04
在掃描電鏡（SEM）?中對非導電樣品進行高真空條件下的成像可能會遇到電荷積累問題，這會導致圖像失真甚至損壞樣品。
MORE INFO → 行業動態 2024-09-04
在掃描電鏡（SEM）?中，優化樣品的電荷補償非常重要，以確保圖像質量和準確性。
MORE INFO → 行業動態 2024-09-03
在掃描電鏡（SEM）?中減少樣品的電子束損傷可以通過以下幾種方法實現：
MORE INFO → 行業動態 2024-09-03
掃描電子顯微鏡（SEM）?的冷卻臺（也稱為冷臺或冷凍臺）是專門設計用于觀察溫度敏感樣品的一種附件。
MORE INFO → 行業動態 2024-09-02