如何選擇適合的探針和檢測器以進行掃描電鏡分析？
在選擇適合的探針和檢測器進行掃描電鏡（SEM）分析時，需要考慮要研究的樣品性質、所需分辨率、表面拓撲特征和所需信號類型。
MORE INFO → 行業動態 2023-10-10
在選擇適合的探針和檢測器進行掃描電鏡（SEM）分析時，需要考慮要研究的樣品性質、所需分辨率、表面拓撲特征和所需信號類型。
MORE INFO → 行業動態 2023-10-10
10月8日，安徽省科學技術廳發布了《關于首批安徽省企業研發中心擬認定名單的公示》，本次全省共有355家企業經遴選推薦審核后通過安徽省企業研發中心的評定。
MORE INFO → 公司新聞 2023-10-10
EDS（能譜分析）是一種在掃描電鏡中常用的分析技術，它的主要作用是通過檢測樣品產生的X射線來進行元素分析。
MORE INFO → 行業動態 2023-10-08
掃描電鏡中的低真空模式是一種操作模式，通常用于特定樣品或情況下，具有一些特定的作用和優勢：
MORE INFO → 行業動態 2023-10-08
掃描電鏡在材料疲勞和斷裂分析中發揮了關鍵作用。
MORE INFO → 行業動態 2023-10-07
在掃描電鏡（SEM）中實現高分辨率的斷層和晶體缺陷檢測通常需要使用一些技術和儀器。
MORE INFO → 行業動態 2023-10-07
9月22日~24日，由中科院物理所表面物理國家實驗室、澤攸科技、松山湖材料實驗室聯合舉辦的“2023原位電鏡技術與應用研討會暨澤攸科技用戶交流會”在廣東惠州成功舉辦。
MORE INFO → 公司新聞 2023-09-27
掃描電鏡中的電子束與樣品相互作用并產生圖像的過程涉及到多種物理和電子學原理。
MORE INFO → 行業動態 2023-09-27