如何避免掃描電鏡成像中的充電效應？
掃描電鏡成像中的充電效應是指由于電子束與樣品相互作用產生的表面電荷積累，從而導致成像問題，如圖像失真、形變、模糊等。
MORE INFO → 行業動態 2023-08-21
掃描電鏡成像中的充電效應是指由于電子束與樣品相互作用產生的表面電荷積累，從而導致成像問題，如圖像失真、形變、模糊等。
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在掃描電鏡中，樣品表面電荷的積累可能會導致圖像的產生模糊、形變或噪聲等問題。
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傳統的掃描電鏡是一種使用電子束而不是光束的顯微鏡，因此無法直接獲取樣品的真實深度信息。
MORE INFO → 行業動態 2023-08-21
在掃描電子顯微鏡（SEM）中，樣品桿的多軸定位是指能夠在多個方向上移動和旋轉樣品，以實現更復雜的樣品定位和觀察需求。
MORE INFO → 常見問題 2023-08-18
樣品桿的手動和自動控制是指在掃描電子顯微鏡（SEM）中，用于安裝、移動和調整樣品的兩種不同的操作方式。
MORE INFO → 常見問題 2023-08-18
樣品桿是掃描電子顯微鏡（SEM）中用于安裝和固定樣品的部件。
MORE INFO → 常見問題 2023-08-18
掃描電鏡圖像的空間分辨率校準是確保您能夠準確測量圖像中各種特征的大小的關鍵步驟之一。
MORE INFO → 行業動態 2023-08-18
在掃描電鏡（SEM）中實現橫截面觀察通常需要使用樣品制備和儀器操作的特定技術。
MORE INFO → 行業動態 2023-08-18