如何在掃描電鏡中避免或減少樣品在成像過程中的偽影
在掃描電子顯微鏡（SEM）成像過程中，樣品可能出現偽影，這可能是由于電子束與樣品相互作用引起的。
MORE INFO → 行業動態 2023-12-08
在掃描電子顯微鏡（SEM）成像過程中，樣品可能出現偽影，這可能是由于電子束與樣品相互作用引起的。
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在掃描電子顯微鏡（SEM）中，非導電樣品通常會導致電荷堆積和圖像模糊，因為電子束與樣品相互作用導致電子的發射和堆積。
MORE INFO → 行業動態 2023-12-08
掃描電鏡（SEM）通?？梢猿上穹菍щ姌悠贰Ｏ噍^于傳統的透射電子顯微鏡，SEM對于樣品的導電性要求較低。
MORE INFO → 行業動態 2023-12-06
掃描電子顯微鏡可以用于化學分析，尤其是表面分析。然而，SEM本身并不直接提供化學信息。
MORE INFO → 行業動態 2023-12-06
在掃描電子顯微鏡（SEM）中，EDS 指的是能譜分析。EDS 是一種用于分析樣品中元素成分的技術，通過測量樣品在電子束照射下產生的X射線來實現。
MORE INFO → 行業動態 2023-12-05
在掃描電子顯微鏡中，需要涂覆導電層的主要原因是提高樣品的導電性。
MORE INFO → 行業動態 2023-12-05
掃描電鏡是一種使用電子束來高分辨率地成像樣品表面的儀器。
MORE INFO → 行業動態 2023-12-04
掃描電鏡的分辨率是指它能夠在圖像中可分辨出的細節程度，通常以線對線或點對點的距離來表示。
MORE INFO → 行業動態 2023-12-04