掃描電鏡（SEM）成像過程中圖像“漂移”是指圖像在連續掃描時緩慢移動、扭曲或者抖動，這會嚴重影響圖像清晰度與可重復性。造成圖像漂移的原因較多，通常與環境、樣品狀態、設備穩定性等因素有關。

常見原因及對應解決方法如下：

1. 樣品充電

原因：非導電樣品在電子束轟擊下積聚電荷，導致電子束偏轉，從而使圖像位置發生偏移或跳動。

解決辦法：

使用金、鉑或碳進行導電鍍膜。

減小加速電壓（如從20?kV降至5–10?kV），降低電荷積累。

改用低真空或環境模式成像。

2. 樣品熱漂移

原因：電子束持續照射樣品時，尤其在高倍率掃描下，局部發熱引起樣品或支架熱膨脹，導致圖像緩慢偏移。

解決辦法：

減小束流和掃描時間，避免長期定點高強度照射。

等待樣品在腔體內“熱平衡”后再開始觀察。

降低放大倍率后進行定位，再切換到高倍率。

3. 機械不穩定

原因：樣品臺或腔室內結構存在微小振動、松動或不穩，特別是在納米級觀測時影響顯著。

解決辦法：

檢查樣品是否固定牢固，樣品夾具是否穩固。

確保樣品臺運動機構未松動。

確保周圍環境無振動源，如壓縮機、地板震動等。

4. 電磁干擾

原因：周圍存在強電磁場或不穩定的電源設備（如電焊機、馬達、手機信號塔等），干擾電子束路徑。

解決辦法：

避免在靠近大功率電器、電源不穩定區域使用SEM。

可在室內添加電磁屏蔽裝置或移動設備位置。

5. 真空不穩定

原因：系統真空度變化可能會影響電子束穩定性，尤其是在樣品釋放氣體或存在水分時。

解決辦法：

確保樣品完全干燥（可使用真空干燥器或臨時烘干）。

檢查真空系統是否泄漏或泵運行異常。

使用更長的抽氣時間以穩定系統真空。

6. 放大倍率過高

原因：在高倍率（例如 >50,000x）下，即便是微小的外部擾動，也會在圖像中被放大表現為漂移。

解決辦法：

先使用低倍率穩定觀察，等待圖像穩定后再切換至高倍率。

使用“幀平均”或“慢掃描”功能提升圖像穩定性。

7. 掃描模式不合適

原因：快速掃描或動態刷新模式容易受到噪聲干擾，造成圖像不穩定。

解決辦法：

改為慢掃描（slow scan）或積分平均模式（frame integration）觀察。

減少掃描區域，聚焦于重點區域。

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