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掃描電鏡（SEM）對同一樣品在不同時間拍攝出現圖像差異是正常的現象，特別是在高分辨率或高放大倍率下。這種差異通常是由以下幾類原因造成的：

一、樣品自身變化

表面污染或吸附

樣品長時間暴露在空氣中后，可能吸附水分、油污或塵埃；

特別是非導電樣品，容易在空氣中積聚靜電或污染層，影響成像。

樣品帶電狀態不同

非導電樣品在前后兩次成像過程中帶電程度可能不同，導致亮度變化、圖像漂移或模糊。

樣品被電子束損傷

某些材料在首次成像時就已被損傷；

再次成像時結構已發生微小變化，表現為圖像細節不同。

二、設備參數設置不同

工作距離（WD）、加速電壓、束流電流不同

這會直接影響圖像的分辨率、對比度和景深；

比如高電壓下圖像更銳利，但穿透深，低電壓時表面細節更明顯但容易模糊。

焦距調整不一致

如果沒有完全對準焦點，成像質量自然不同；

不同時間操作員或設置不同也會帶來誤差。

放大倍率差異

即使是同一區域，不同放大倍數下對比、視角、邊緣銳度都會不同。

三、儀器狀態變化

系統真空度不同

真空波動會影響電子束穩定性，進而影響圖像質量。

鏡筒污染或電子槍老化

鏡筒污染或電子源性能退化也會使圖像亮度、清晰度下降。

樣品臺位置或傾角微變

可能在重新放置樣品或二次加載過程中角度稍變；

即使位置一樣，觀察角度不同也會引起細節偏差。

四、操作習慣和視圖設定差異

視圖參數（亮度/對比度/伽馬值）不同

圖像保存方式不同（原始圖/增強圖）

不同操作員對焦方式不同