掃描電鏡的真空度介紹
掃描電子顯微鏡（SEM）的真空度是非常重要的參數，它直接影響電子束的傳播和樣品的成像質量。
MORE INFO → 行業動態 2024-06-05
掃描電子顯微鏡（SEM）的真空度是非常重要的參數，它直接影響電子束的傳播和樣品的成像質量。
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在掃描電子顯微鏡（SEM）中，調節焦距是獲取清晰圖像的關鍵步驟。焦距調節主要是通過控制工作距離（Working Distance, WD）和物鏡焦距（Objective Focus）來實現的。
MORE INFO → 行業動態 2024-06-03
掃描電子顯微鏡（SEM）結合能量色散X射線光譜（EDS或EDX）技術，能夠提供多種成分分析功能。
MORE INFO → 行業動態 2024-06-03
在掃描電子顯微鏡（SEM）分析中，硅片常用于以下幾種情況：
MORE INFO → 行業動態 2024-05-30
對于非導電樣品，掃描電子顯微鏡（SEM）分析通常需要進行導電處理，以防止在電子束照射下產生電荷積累，導致圖像失真或漂移。
MORE INFO → 行業動態 2024-05-30
掃描電子顯微鏡（SEM）可以結合能量色散X射線光譜（EDS或EDX）來進行成分分析。
MORE INFO → 行業動態 2024-05-29
測量掃描電子顯微鏡（SEM）圖像中的直徑需要一些特定的步驟和工具。
MORE INFO → 行業動態 2024-05-29
掃描電鏡（SEM）圖像的大小受到樣品與電子槍之間的距離（工作距離）的影響。這是由于SEM的工作原理決定的。
MORE INFO → 行業動態 2024-05-24