樣品在掃描電鏡中容易充電怎么辦？
在掃描電鏡（SEM）里，樣品容易充電是因為電子束轟擊后，樣品表面的電子無法及時泄放，累積成電荷，導致圖像發亮、漂移、甚至嚴重失真。
MORE INFO → 行業動態 2025-08-27
在掃描電鏡（SEM）里，樣品容易充電是因為電子束轟擊后，樣品表面的電子無法及時泄放，累積成電荷，導致圖像發亮、漂移、甚至嚴重失真。
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在掃描電鏡（SEM）里，成像和分析依賴不同類型的電子信號，常見信號主要有以下幾種：
MORE INFO → 行業動態 2025-08-25
在掃描電鏡里，樣品表面出現 充電現象主要是因為樣品 導電性不足，電子束打到樣品表面后，電荷不能及時導走，在局部累積造成的。
MORE INFO → 行業動態 2025-08-25
亮暗對比是掃描電鏡（SEM）圖像基本的特征之一。亮暗對比的形成，主要來自樣品表面與電子束相互作用后信號的差異。
MORE INFO → 行業動態 2025-08-22
在掃描電鏡（SEM）里，圖像是通過電子束掃描和信號采集生成的，像素大小與放大倍數和工作條件直接相關。
MORE INFO → 行業動態 2025-08-22
掃描電鏡（SEM）并不能直接測量樣品的厚度，因為 SEM 的成像原理是基于電子束與樣品表面相互作用后產生的二次電子。
MORE INFO → 行業動態 2025-08-20
掃描電鏡（SEM）能看到的最小結構，取決于它的分辨率，而分辨率又受電子槍類型、加速電壓、樣品制備和探測模式等因素影響。
MORE INFO → 行業動態 2025-08-20
在掃描電子顯微鏡（SEM）中，電子束與樣品相互作用會產生多種信號，不同的檢測模式對應不同的物理信息。
MORE INFO → 行業動態 2025-08-18