如何防止樣品在掃描電鏡下充電？
在掃描電鏡（SEM）下，樣品充電（charging）主要發生在非導電或低導電材料表面，因為電子束轟擊后產生的多余電荷無法及時泄放。
MORE INFO → 行業動態 2025-08-08
在掃描電鏡（SEM）下，樣品充電（charging）主要發生在非導電或低導電材料表面，因為電子束轟擊后產生的多余電荷無法及時泄放。
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掃描電鏡（SEM）圖像中顆粒顯示模糊，通常是以下幾個原因造成的。根據經驗和常見問題，可以從以下幾個方面來排查和解決：
MORE INFO → 行業動態 2025-08-06
在使用掃描電鏡（SEM）拍圖時，建議關閉燈光（尤其是室內白熾燈、日光燈或輔助照明），具體原因如下：
MORE INFO → 行業動態 2025-08-04
當掃描電鏡（SEM）圖像變亮或出現過曝現象時，說明圖像中部分區域亮度過高，導致細節丟失、圖像偏白或泛光。
MORE INFO → 行業動態 2025-08-04
掃描電鏡（SEM）拍圖時通常需要調整樣品的高度，這是成像質量和操作效率的重要因素。
MORE INFO → 行業動態 2025-08-01
掃描電鏡（SEM）成像時出現干擾條紋，通常是由于外部干擾、電氣系統異?；驑悠穯栴}引起的。
MORE INFO → 行業動態 2025-08-01
掃描電鏡（SEM）圖像采集過程中是可以實時調參的，而且這是實際操作中非常重要的一部分。
MORE INFO → 行業動態 2025-07-30
掃描電鏡（SEM）電子束聚焦不良時，圖像通常會模糊、不銳利，難以分辨細節。
MORE INFO → 行業動態 2025-07-30