掃描電鏡為什么圖像邊緣容易出現像差？
在掃描電鏡（SEM）成像過程中，圖像邊緣出現像差，常見表現包括模糊、拉伸、畸變或亮度不均，主要是由于電子束聚焦性能在邊緣區域變差導致的。
MORE INFO → 行業動態 2025-07-17
在掃描電鏡（SEM）成像過程中，圖像邊緣出現像差，常見表現包括模糊、拉伸、畸變或亮度不均，主要是由于電子束聚焦性能在邊緣區域變差導致的。
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在掃描電鏡（SEM）觀察過程中，非導體樣品或導電性差的樣品表面容易積累電荷，這會導致圖像發白、模糊、漂移甚至“閃爍”，嚴重影響成像質量。
MORE INFO → 行業動態 2025-07-17
如果掃描電鏡（SEM）圖像對比度太低，圖像會顯得灰蒙蒙、細節不清，無法分辨結構差異。
MORE INFO → 行業動態 2025-07-14
在掃描電鏡（SEM）中，放大倍數是通過調節電子束掃描范圍來實現的，而不是像光學顯微鏡那樣靠更換鏡頭。
MORE INFO → 行業動態 2025-07-10
掃描電鏡（SEM）的掃描范圍是可以放大或縮小的，而且這正是實現“放大倍數”變化的核心原理。
MORE INFO → 行業動態 2025-07-10
掃描電鏡（SEM）成像模糊很大可能是焦距沒有調好。成像模糊的成因通常可以分為對焦問題、樣品問題、參數設置問題和機械或電子系統問題。
MORE INFO → 行業動態 2025-07-08
掃描電鏡（SEM）樣品成像過程中被“燒焦”，一般指樣品在電子束照射下發生局部碳化、變色、融化或形貌破壞，這是一種不可逆的損傷現象，尤其在非導電或有機樣品中較常見。
MORE INFO → 行業動態 2025-07-08
在掃描電鏡（SEM）成像時，如果樣品邊緣特別亮，這是一個非常常見的現象，通常由以下幾個主要原因造成：
MORE INFO → 行業動態 2025-07-04