掃描電鏡是怎么成像的？
掃描電子顯微鏡（SEM, Scanning Electron Microscope）成像的原理，是通過聚焦電子束掃描樣品表面并收集產生的各種信號來形成圖像。
MORE INFO → 行業動態 2025-04-07
掃描電子顯微鏡（SEM, Scanning Electron Microscope）成像的原理，是通過聚焦電子束掃描樣品表面并收集產生的各種信號來形成圖像。
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掃描電子顯微鏡（SEM）需要真空環境，主要原因如下：
MORE INFO → 行業動態 2025-04-03
掃描電子顯微鏡（SEM）通常在高真空環境下工作，因此潮濕或液態樣品在常規 SEM 中容易脫水、蒸發、膨脹或塌陷，影響成像效果。
MORE INFO → 行業動態 2025-04-03
在掃描電鏡（SEM）中，調整襯度（Contrast）和亮度（Brightness）對于增強樣品的細節非常重要，尤其是在觀察低對比度或高動態范圍的樣品時。
MORE INFO → 行業動態 2025-04-02
在掃描電鏡（SEM）中，非導電樣品容易因電子束轟擊產生充電效應（charging），導致圖像失真或信號丟失。
MORE INFO → 行業動態 2025-04-02
掃描電子顯微鏡（SEM）圖像對焦困難的主要原因包括樣品高度不均、電子束參數設置不當、充電效應、振動干擾等。針對不同情況，可以采取相應的調整方法來改善焦點，提高成像清晰度。
MORE INFO → 行業動態 2025-04-01
在掃描電子顯微鏡（SEM）下，樣品容易發生充電效應（charging effect），主要原因是：
MORE INFO → 行業動態 2025-04-01
掃描電鏡（SEM）的電子束斑尺寸（Beam Spot Size）對成像質量有直接影響，主要涉及分辨率、信噪比和成像清晰度。
MORE INFO → 行業動態 2025-03-31