非導電樣品在掃描電鏡下如何成像？

非導電樣品在掃描電鏡（SEM）下成像時，由于電子束轟擊樣品會導致電荷積累，進而產生充電效應，這可能導致圖像畸變、漂移甚至無法成像。

MORE INFO → 行業動態 2025-03-24

掃描電鏡樣品的固定和粘附方法有哪些？

在掃描電鏡（SEM）成像過程中，樣品需要穩定固定在樣品臺上，以避免成像時的漂移、振動或充電效應。

MORE INFO → 行業動態 2025-03-21

掃描電鏡的空間分辨率如何測定？

掃描電鏡（SEM）的空間分辨率通常通過以下幾種方法進行測定：

MORE INFO → 行業動態 2025-03-21

使用掃描電鏡進行納米級觀察時需要注意哪些因素？

使用掃描電子顯微鏡（SEM）進行納米級觀察時，需要特別注意以下幾個關鍵因素，以確保高分辨率成像、準確分析，并減少可能的誤差或偽影。

MORE INFO → 行業動態 2025-03-20

如何提高掃描電鏡的成像速度而不損失分辨率？

要提高掃描電子顯微鏡（SEM） 的成像速度，同時保持較高的分辨率，需要綜合優化 電子束參數、掃描方式、探測器設置和信號處理。

MORE INFO → 行業動態 2025-03-20

掃描電鏡成像時如何減少漂移？

在掃描電鏡（SEM）成像過程中，漂移會導致圖像模糊、細節丟失，特別是在高倍率和長曝光時間下尤為明顯。

MORE INFO → 行業動態 2025-03-18

掃描電鏡能否直接觀察濕樣品？

普通的掃描電子顯微鏡（SEM）不能直接觀察濕樣品，因為 SEM 需要高真空環境來防止電子束散射，而濕樣品中的水分在真空中會迅速蒸發，導致樣品形態變化甚至損壞。

MORE INFO → 行業動態 2025-03-18

如何處理樣品以避免在掃描電鏡下發生充電偽影？

在掃描電鏡（SEM）成像過程中，非導電樣品容易產生充電效應，導致圖像模糊、亮度不均、漂移或偽影。

MORE INFO → 行業動態 2025-03-17